射線檢測(cè)是五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法的一種，射線檢測(cè)只能對(duì)被檢測(cè)件的內(nèi)部缺陷檢測(cè)。

1895年倫琴發(fā)現(xiàn)X射線，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)正式進(jìn)人工業(yè)化大生產(chǎn)的實(shí)際應(yīng)用領(lǐng)域。1900年法國(guó)海關(guān)開(kāi)始應(yīng)用X射線檢驗(yàn)物品。1922年美國(guó)建立了世界上第一個(gè)工業(yè)射線實(shí)驗(yàn)室，用X射線檢査鑄件質(zhì)量，以后X射線在軍亊工業(yè)和機(jī)械制造業(yè)等領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。射線無(wú)損檢測(cè)至今仍然是許多工業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量控制的重要手段。

射線檢測(cè)是一種利用射線的穿透性和直線性來(lái)檢測(cè)缺陷的方法。射線檢檢測(cè)對(duì)缺陷圖像有直觀的反映，容易判斷缺陷的尺寸和性質(zhì)。用計(jì)算機(jī)輔助斷層掃描(CT)方法可淸楚了解缺陷的斷面情況，便于分析和處理；用底片記錄法可作為原始的資料長(zhǎng)期保存；用圖像處理技術(shù)還可以使評(píng)定分析自動(dòng)化。

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